[其他]涂层厚度测定仪无效
| 申请号： | 87214493 | 申请日： | 1987-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN87214493U | 公开（公告）日： | 1988-09-28 |
| 发明（设计）人： | 高申明;王文清;肖波;宋象军 | 申请（专利权）人： | 华中工学院 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 华中工学院专利事务所 | 代理人： | 杨丕震 |
| 地址： | 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于铸型、芯涂料层厚度及建材用内墙涂料层厚度测定的新仪器。该仪器的特点是采用探头探针和显示仪表直接相连，通过调整弹簧预紧力给探头探针一定的进针力，使其刺透涂层抵达界面并通过显示仪表直接快速显示测点涂料层厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层 厚度 测定 | ||
【主权项】：
1、一种铸造用涂层厚度测定仪，其特征是通过探头下部连接的探针刺透涂层，探头由多根具有一定刚度的细针所组成，连接探头的测杆端部的探针能通过调正弹簧的予紧力得到一定的预进针力，从而抵达基体表面，并通过显示仪表反映涂层厚度。
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