[发明专利]一种微氮低氧低碳直拉硅单晶的制备方法无效

专利信息
申请号: 88100307.7 申请日: 1988-01-20
公开(公告)号: CN1003797B 公开(公告)日: 1989-04-05
发明(设计)人: 李立本;阙端麟 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C30B29/06 分类号: C30B29/06;C30B15/04
代理公司: 浙江大学专利代理事务所 代理人: 连寿金
地址: 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种微氮低氧低碳直拉硅单晶的制备方法应用外加磁场的单晶炉,以纯度为99.99%的氦气或氢-氮混合气作为保护气体,通过合理控制炉内压力、气体流量等工艺制备微氮低氧低碳直拉硅单晶。其氧含量可低于10ppam,碳含量可低于1ppma,掺入氮含量小于4.5×1015/cm2。该方法制备的硅单晶,成本大幅度降低,其硅片在器件工艺中不易翘曲和破碎,成品率高,优品率增加。适合于制备2″~6″或更大直径直径的硅单晶,是制造大规模集成电路和超大规模集成电路的理想材料。
搜索关键词: 一种 低氧 低碳直拉硅单晶 制备 方法
【主权项】:
1.一种微氮低氧低碳直拉硅单晶的制备方法,包括外加磁场为1000~5000高斯,增埚转速为5~20转/分,坩埚内多晶投料量为20~60千克,晶体转速为10~30转/分,拉速为0.8~1.5毫米/分,晶体直径为2″~6″,其特征在于:采用99.99%以上的霓或者99.99%以上的氩—氮混合气对硅作气相掺氮,炉内气体压力为5~80托,气体流量为4~16米3/小时。
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