[发明专利]非接触空间测量的方法和装置无效

专利信息
申请号: 88103825.3 申请日: 1988-05-26
公开(公告)号: CN1037963A 公开(公告)日: 1989-12-13
发明(设计)人: 罗伯特·约翰·比阿宁格;詹姆斯·阿瑟·宁里恩 申请(专利权)人: 欧文斯-伊利诺衣电视产品公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B21/20;H01J29/90;H04N17/04
代理公司: 中国专利代理有限公司 代理人: 吴秉芬,吴增勇
地址: 美国俄*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 测量工件边缘平直度的光电计测装置和方法。该装置包括强度均匀的光源,光检测器,准直光装置,第一透镜,有一光栏孔的挡板,第二透镜及检测装置。该方法包括;产生均匀准直光;使两个边缘间的投射光形成一具有横向尺寸的象;限制该象通过第一透镜并使成象光线的角分量接近平行光;使此光聚焦;在焦面处检测图象横向尺寸方向上的最大光强和具有至少1/2已测最大光强而成象的部分的横向长度,以消除间隙边缘图象的光学边缘效应。
搜索关键词: 接触 空间 测量 方法 装置
【主权项】:
1、一种测量横过光轴的间隔元件的间距的装置,包括:一个均匀光源;一个光探测器;从所述光源沿着所述光轴出射准直光的装置;一个中心位于所述光轴上第一透镜,接收通过所述间隔元件之间的来自准直光装置的光;一个挡板,位于所述第一透镜的后焦平面处,其上有一个位于光轴中心的光栏孔,以限制从所述光源通过所述间隔元件之间出射光的角分量,使光线近似平行于光轴;一个第二透镜,它把入射到第一透镜上的光聚焦,并通过所述的光栏孔射到所述探测器上;所述探测器,探测从所述第二透镜入射到探测器上成象部分的光的位置和强度;所述的孔径,沿测量方向有一个宽度以产生一个象,入射到所述探测器上,在倾斜光强端区之间具有均匀的最大光强;接收装置,接收通过间隔元件之间,并入射到所述探测器上的光象大小的装置,探测器至少具有1/2最大光强的光。
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