[发明专利]透明物件厚度的光学测量方法无效
申请号: | 88108567.7 | 申请日: | 1988-12-08 |
公开(公告)号: | CN1033479A | 公开(公告)日: | 1989-06-21 |
发明(设计)人: | 理德·威廉斯;保罗·弗雷德里克·史各特 | 申请(专利权)人: | 恩哈特工业公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 何耀煌,吴增勇 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 利用诸如激光束的平行光束对透明容器的壁厚进行快速而准确的测量的方法和装置。激光二极管和相关的光学装置,沿着与容器外壁相交的路线,把平行光射到测量点上。把诸如菲涅耳透镜的透镜系统放在外测量点和光敏元件阵列之间的反射光线路径中,直线型光敏元件阵列的长轴是水平测量面与象平面的交线。由该直线型光敏元件阵列测得的反射光线与折射光线的间距基本上正比于容器的壁厚。 | ||
搜索关键词: | 透明 物件 厚度 光学 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种用于测量透明容器壁厚的方法,其特征在于包含以下步骤:利用与所述容器的半径构成锐角的入射光线照射该容器的侧壁,从而,产生分离的“反射”和“折射”光线,前者代表入射光线从侧壁后表面的反射光线,利用透镜装置使所述反射光线和折射光线再射向直线型检测组件,所述直线型检测组件位于所述透镜装置的象平面,该象平面与名义上包含所述反射光线的前表面反射点和所述折射光线的后表面反射点的物平面共轭,以及测量所述反射光线和折射光线在所述直线型检测组件处的间距,作为所述物件的厚度系数。
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