[发明专利]集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置无效
| 申请号： | 89101808.5 | 申请日： | 1989-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN1015742B | 公开（公告）日： | 1992-03-04 |
| 发明（设计）人： | 于朴;王旷;张文奇 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 北京市学*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法及装置。采用集束微电极，同时在集束微电极的不同位置上采集测量数据，大大缩短了测量时间，并实现了计算机控制和计算，可全面、清楚地了解腐蚀样品表面的腐蚀发展瞬态过程。 | ||
| 搜索关键词： | 集束 微电极 腐蚀 电化学 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法。用微电极快速测量样品表面不同位置上的相对电位值，其特征在于：由100～400支/cm2微电极按一定顺序组成微电极束。通过计算机发出采集控制命令，对位于不同位置的微电极采集数据，最后将采集到的数据直接输入计算机进行分析处理。
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