[发明专利]自适应直线度测量方法及其装置无效

专利信息
申请号: 89103290.8 申请日: 1989-05-18
公开(公告)号: CN1017090B 公开(公告)日: 1992-06-17
发明(设计)人: 殷纯永;曾理江;梁晋文;丁慎训 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/27
代理公司: 清华大学专利事务所 代理人: 廖元秋
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种自适应直线度测量方法及其装置,属于直线度的光学测量技术领域。本发明所述方法是在测量现场采集数据利用多元逐步回归方法,建立适合当时当地条件的模型,并以自适应除噪技术以及对测试区温度梯度的监测达到消除测量中由于光束本身的漂移、抖动、弯曲造成的误差,以保证测量基准的稳定性,提高直线测量的精度。本发明所述装置是在准直光束路径上设置两个以上固定的监测靶,一个与被测物相连的测试靶,同时对各靶多次采样取平均值后进行计算机数据处理,并实时输出测试结果。
搜索关键词: 自适应 直线 测量方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种自适应直线度测量方法,包括准直激光光源用以产生准直激光光束,两个设置一定间距的A、B监测靶。这两个监测靶在测量中不动,它们的中心所确定的直线为测量基准,一个与测量物相联的测量靶(G)设置在所说的两监测靶所确定的直线上,其特征在于当激光光束通过所说的A、B、C靶时,同时对A、B、C三点采样,得到各点数据经过多元逐步回归方法建立的修正模型进行处理,消除光束漂移误差,测量过程中随时监测温度梯度值对光线弯曲进行实时修正。
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