[发明专利]高精度测角表光栅副设计方法

摘要

本发明属于一种高精度测角仪表的光栅副设计方法，它是在主、副两个光栅盘上，分别刻制出度、分、秒、1/1000秒甚至更高精度级的刻线，利用刻线、字划作为光的通道，主、副刻线重合透光显示数值。这种集多组游标于一体的方法，具有在一个小的光栅表面积上获得高精度测量数据的效果。采用本方法制造的光栅副与发光系统配合使用，可制成各种高精度的测角仪表。

主权项

1、高精度测角表光栅副设计方法，是在一块主光栅盘和一块副光栅盘的圆周面上分别刻制出体现角度的透光刻线和读数，其特征在于：1)、主光栅盘(1)的刻制方法为：a、1/1000秒刻线(3)是将360°分为1000等分；b、1/1000秒读数环(4)采取逢50标注数字，逢10标注△点；c、度刻线(5)是将360°分为360等分，各条刻线按逢10最长、逢5次之、其余最短方式刻制；d、度读数环(6)采取逢10标注；e、分刻线(7)是将360°分为60等分，各条刻线等长；f、分、秒公用读数环(8)采取逢5、10标注；g、秒刻线(9)是将360°分为60等分，各条刻线等长，2)、副光栅盘(2)的刻制方法为：a、1/1000秒刻线(10)以21′36″为基数，从0线(11)开始每格递减1″/1000，共刻制出1000格；b、度刻线13为1条0刻线，分为黑、亮两段，亮段(14)的长度对应于主光栅盘上度刻线(5)中最短刻线的长度，其余为黑段(15)，与主光栅盘上刻线(5)中的最长刻线相对应，度刻线(13)处设有一扇形透明窗口(19)；c、分刻线(16)以6°为基数，从0线开始每格递减1′，共刻制60格；d、秒刻线(18)以6°为基数，从0线开始每格递减1″，共刻制60格；e、1/1000秒读数环(12)和分、秒公用读数环(17)均为无字透光亮环。