[发明专利]等离子体加工方法无效

专利信息
申请号: 89107899.1 申请日: 1989-10-11
公开(公告)号: CN1029991C 公开(公告)日: 1995-10-11
发明(设计)人: 山崎舜平;林茂则;石田典也;佐佐木麻里;竹山顺一;伊藤健二;小政弘;角野真也 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: C23C16/26 分类号: C23C16/26;C23C16/34;C03C17/22
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 齐曾度
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用化学汽相淀积法在一个表面上涂覆碳质薄膜。在淀积该碳质薄膜之前,在该表面上先涂覆一层氮化硅薄膜,以防该碳质膜和衬底表面之间的相互扩散。
搜索关键词: 等离子体 加工 方法
【主权项】:
1.一种在基体上形成金刚石膜的方法,该方法包括以下步骤:在所述基体上覆盖一层掩蔽膜;除所述基体上已被所述掩蔽膜覆盖的部位之外,将其余表面划出伤痕;除掉所述掩蔽膜;将所述基体置于一个反应室中;通过在该反应室中进行汽相化学反应,在所述基体的经划痕表面上生长一层金刚石膜。
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