[实用新型]平面波天线零桥断层成像测试装置无效

专利信息
申请号: 89201807.0 申请日: 1989-02-21
公开(公告)号: CN2043756U 公开(公告)日: 1989-08-30
发明(设计)人: 赵川东 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N22/02 分类号: G01N22/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 平面波天线零桥断层成像测试装置,属于非金属材料的无损检测和断层成像技术。本实用新型的微波部分设计采用E面扩展的窄波束喇叭作下斜馈源,同抛物面反射体组合成一体,简便地构成平面波照射源,同时由微波零桥环路抵消强入射波信号,因而可以精确地检测出目标的微散射场,并直接计算和完成图像处理。由于该微波测试装置实现了大口径天线和强入射波照射,大大提高了系统的分辨力,可实现对较复杂结构的电介材料进行断层成像。
搜索关键词: 平面波 天线 断层 成像 测试 装置
【主权项】:
1、一种平面波天线零桥断层成像测试装置,由微波信号源(7),扫描与旋转机构(9)微波照射与信息检测器(8)、两路幅相接收机(10)、模/数转换器与接口电路(11)、电子计算机(12)、图像显示器(13)、外存贮器(14)和打印机(15)组成,其特征在于:微波照射与信息检测器(8)采用产生平面波的天线与零桥测量系统合为一体的设计,它由窄波束喇叭(28)抛物面天线(36)、直口喇叭接收天线(33)、隔离器(7′)、定向耦合器(19)、(22)、(30)、谐波混频器(20)、粗调度减器(23)、移相器(24)、精密极化衰减器(25)、混频器(31)、测试罐(35)等组成。
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