[实用新型]由干涉法测材料线膨胀系数的装置无效
| 申请号： | 89206887.6 | 申请日： | 1989-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN2053326U | 公开（公告）日： | 1990-02-21 |
| 发明（设计）人： | 王培玉;张金凤 | 申请（专利权）人： | 上海钢铁研究所 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 吴俊 |
| 地址： | 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种由于干涉法测材料线膨胀系数的装置。它主要由光源、光学干涉系统、干涉检测部件、测温和控温器件以及记录器件等构成。该装置的主要特点是测量准确，可测量小膨胀系数材料，同时还可对厚度极薄的金属薄片试样的线膨胀系数进行测量。本实用新型所述装置的测量范围可高至600℃左右，它可由计算机进行数据收集、处理及输出，从而实现了测量的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 材料 线膨胀 系数 装置 | ||
【主权项】：
1、一种高精度测量材料线膨胀系数的装置，其特征在于它包括：(Ⅰ)产生单色平行光的光源；(Ⅱ)用于产生干涉现象的位于试样两端的上干涉片和下干涉片；(Ⅲ)用于检测由上、下干涉片产生的干涉条纹的干涉检测部件；(Ⅳ)用于记录由干涉检测部件得到的信号的记录器件；(Ⅴ)用以对试样加热的加热炉；(Ⅵ)用以测量和控制炉温的测温器件和控温器件。
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