[发明专利]检测液流中导体和半导体微粒的诊断过滤器无效
申请号: | 91100458.0 | 申请日: | 1991-01-25 |
公开(公告)号: | CN1053679A | 公开(公告)日: | 1991-08-07 |
发明(设计)人: | 迈克尔·约瑟夫·迈塔拉;小威廉·盖·克拉克 | 申请(专利权)人: | 西屋电气公司 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72;B01D35/06 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人: | 邹光新 |
地址: | 美国宾夕*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种监测液体中夹带的电导体或半导体微粒的诊断过滤装置,包括一个过滤元件(4),它容纳并流通液体,而将混在液体里的微粒保留;线圈(8),设在所述过滤元件附近用于产生交变磁场,该磁场穿过过滤元件的至少一部分区域。一个涡电流检测装置(12)与所述磁场线圈(8)相连,用于检测过滤元件内的微粒对磁场的影响,以指示在过滤元件(4)上聚有微粒和其类型。 | ||
搜索关键词: | 检测 液流中 导体 半导体 微粒 诊断 过滤器 | ||
【主权项】:
1、一种用于监测由液体夹带的电导体或半导体微粒的诊断过滤装置,包括:一个过滤元件(4),它容纳入液体并允许液体流过,而将该液体中夹带的微粒保留;装置(8)它靠近所述的过滤元件(4)布置,用于产生一个交变的电磁场,该电磁场穿过所说过滤元件(4)的至少一部分区域;其特征在于,涡线电流检测装置(12)与所述产生电磁的装置(8)相连接,用于检测在所述过滤元件区域的微粒对所述场的影响。
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