[发明专利]光纤干涉传感器在审
申请号: | 91101801.8 | 申请日: | 1991-03-18 |
公开(公告)号: | CN1055061A | 公开(公告)日: | 1991-10-02 |
发明(设计)人: | 戴维·利普森;尼古拉斯·加斯顿洛贝尔 | 申请(专利权)人: | 伊莱利利公司 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01D5/26 |
代理公司: | 中国专利代理有限公司 | 代理人: | 郭伟刚,马铁良 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种光纤干涉测量系统包括一对具有远端和近端的单模、保偏光纤。将该光纤之一所选择部分的包层除去以允许在该光纤内传输的光波的瞬逝部分与该光纤所选择部分周围的任意介质相互作用。将用以产生已知特性光的光源与该对光纤的近端相耦合以将光源信号导入该对光纤。在光纤远端的反射器将光从远端反射回光源。返回信号构成用来进行观察以检测对光信号相位任意调制的干涉图。以比率测量方式分析该调制从而基本没有环境所致相位噪声地获得在所选择部分周围的介质的折射率变化。 | ||
搜索关键词: | 光纤 干涉 传感器 | ||
【主权项】:
1、一种检测样品中变化的方法,它包括下列步骤:a)提供一根具有一段允许瞬逝波耦合到邻近介质的单模光纤,b)使该段光纤与样品连接允许瞬逝波与其相互作用,c)将已知特性的光导入该光纤并通过该段光纤由反射器反射,再次通过该段光纤,d)当光波再通过该段光纤后,用其构造一个干涉图,以及e)观察干涉图以检测由于样品中光程变化引起的光的相位调制。
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