[发明专利]多元素同位素X射线荧光分析仪

摘要

本发明是根据新工作原理设计的一种多元素同位素X射线荧光分析仪，它有特殊设计的双探头非真空测量室，其轻元素探测器是铍窗厚度为25μ的高分辨率封闭式正比计数管，重元素探头为双源探头。同时采用了双通路512道脉冲处理器和独特的X荧光能谱数学解析技术，成功地解决了轻元素和相邻元素的定量分析问题，可以测定元素周期表中包括Al、Si等轻元素在内的大多数元素。本发明在冶金、地质、矿业、化工、建材等工业领域具有广泛的用途。

主权项

1.一种多元素同位素X射线荧光分析仪，可以同时快速分析物质中原子序数在Al以上(包括Al)的多种元素或其化合物的含量，其特征是：(1)由双探头非真空测量室和双通路脉冲处理器构成主机，该主机与装有命名为WL的专用分析软件的分析计算机构成分析仪整机；(2)上述双探头真空测量室，用于测定Al、Si、S等轻元素含量的轻元素探头采用了Φ10～12mm、厚度25～30μ的薄铍窗封闭式高分辨正比计数管作探测器，并采用了强度为10～20mCi的环状Fe-55低能光子源作激发源，激发源——样品间的距离为0.8～1.5mm；用于测定中等原子序数以上的重元素探头中装有1个20～30mCi的Pu-238点状源和20～30mCi的Am-241点状源，通过光闸机构选择其中之一作为激发源，并采用Ф20～23mm厚度0.2mm的厚铍窗高分辨率正比计数管作为重元素探测器，激发源——样品间的距离为6～10mm；(3)来自轻、重元素探头的X射线荧光信号进入双通路脉冲处理器进行信号放大、变换处理后形成X射线荧光能谱，能谱数据通过RS-232通讯口自动送入分析计算机，该计算机中装有命名为WL的专用分析软件，该软件中采用了具有以下特征的X射线荧光能谱数学分析技术；采用纯元素参考谱非线性最小二乘法谱形拟合的数学解析方法，实现重叠谱峰的剥离、被覆盖峰的解析和背景扣除；采用强峰自选最佳参考谱的方法，自动校正计数率变化所引起的强峰谱形变化和背景变化；采用峰位随机定位技术，自动校正计数率——峰位漂移效应和其它因素引起的峰位漂移。