[发明专利]一种测量物体直径的方法及其设备无效

专利信息
申请号: 91107169.5 申请日: 1991-03-28
公开(公告)号: CN1026153C 公开(公告)日: 1994-10-05
发明(设计)人: 曾昭信;何舜华 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01B11/08 分类号: G01B11/08
代理公司: 电子科技大学专利事务所 代理人: 马新民
地址: 610054 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种测量物体直径的方法及其设备。这种方法是在同一光路中用扫描激光束分别垂直扫过被测物体和标准挡光件,以获取二个光信号,二个光信号经放大、半峰检波、波形处理后分离,分别经A/D变换后由计算机进行相除运算后乘以预置常数即可取得测量数据。本发明公开的专用设备较之现有的测量设备是在光路中安置了一个以获取标准信号的标准挡光件,以及在电路系统中新加入了计算机数据处理设备以补偿环境变化和系统设备所造成的误差。所以采用本发明可大大提高测量精度、降低设备成本、提高产品质量,是管材、线材生产的新方法、新设备。
搜索关键词: 一种 测量 物体 直径 方法 及其 设备
【主权项】:
1.一种测量物体直径的方法,其中激光光源发出的光束照射到匀角速运动的旋转镜上,使光束匀角速运动,该光束经F(θ)透镜后由匀角速运动变为匀线速运动,匀线速运动的光束垂直扫过被测物后经会聚在光电探测器上得到被测物体的挡光时间Δt2,其特征在于:激光束还垂直扫过在F(θ)透镜和会聚用的积分透镜之间的标准挡光件,经会聚后在光电探测器上得到另一挡光时间Δt1,由后续电路进行Δt2/Δt1运算后乘以预置校正常数,即得到物体直径测量值;标准挡光件与被测物在垂直光束方向上有一小间距。
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