[发明专利]一种半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 92103136.X 申请日: 1992-04-30
公开(公告)号: CN1029273C 公开(公告)日: 1995-07-05
发明(设计)人: H·L·皮克 申请(专利权)人: 菲利浦光灯制造公司
主分类号: H01L21/266 分类号: H01L21/266
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳,肖掬昌
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 为了在具有多个槽的半导体表面上制造注入掩模,需使正性光刻胶层制作在表面上。在第一步中,以光照射要形成注入掩模的光刻胶部分,并在影象转变阶段中变成不溶性物,然后,不要掩模,以光照射该光刻胶并显影,使第一步中没有被光照射过的部分除去。这样制得的注入掩模具有后缩的轮廓,在槽区的窗口沿向槽底的方向而变宽。
搜索关键词: 一种 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,其中在半导体本体的表面上至少形成一个槽,该槽从表面延伸到半导体本体内,通过掩模用离子注入法,在该槽的一部分形成一掺杂区,其特征在于,将一正性光刻胶层制作在表面上与槽内;将待进行离子注入的区域的光刻胶层加掩蔽以防止受辐照,而光刻胶层不加掩蔽的部分受到第一次辐照,此后,通过一影象转变处理,使光刻胶层辐照过的部分变成不溶性物,在后续的第二次辐照步骤中,对待进行离子注入的区域的光刻胶层施加辐照,此后,经显影将上述的第一次辐照步骤时掩蔽着的光刻胶层部分除去;及第二次辐照步骤进行的辐照剂量,要比第一次辐照高。
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