[发明专利]一种半导体器件的制造方法无效
申请号: | 92103136.X | 申请日: | 1992-04-30 |
公开(公告)号: | CN1029273C | 公开(公告)日: | 1995-07-05 |
发明(设计)人: | H·L·皮克 | 申请(专利权)人: | 菲利浦光灯制造公司 |
主分类号: | H01L21/266 | 分类号: | H01L21/266 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳,肖掬昌 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 为了在具有多个槽的半导体表面上制造注入掩模,需使正性光刻胶层制作在表面上。在第一步中,以光照射要形成注入掩模的光刻胶部分,并在影象转变阶段中变成不溶性物,然后,不要掩模,以光照射该光刻胶并显影,使第一步中没有被光照射过的部分除去。这样制得的注入掩模具有后缩的轮廓,在槽区的窗口沿向槽底的方向而变宽。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,其中在半导体本体的表面上至少形成一个槽,该槽从表面延伸到半导体本体内,通过掩模用离子注入法,在该槽的一部分形成一掺杂区,其特征在于,将一正性光刻胶层制作在表面上与槽内;将待进行离子注入的区域的光刻胶层加掩蔽以防止受辐照,而光刻胶层不加掩蔽的部分受到第一次辐照,此后,通过一影象转变处理,使光刻胶层辐照过的部分变成不溶性物,在后续的第二次辐照步骤中,对待进行离子注入的区域的光刻胶层施加辐照,此后,经显影将上述的第一次辐照步骤时掩蔽着的光刻胶层部分除去;及第二次辐照步骤进行的辐照剂量,要比第一次辐照高。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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