[发明专利]改变光学性质的方法、光器件、信息记录介质方法及装置无效
| 申请号： | 92104788.6 | 申请日： | 1992-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN1072272A | 公开（公告）日： | 1993-05-19 |
| 发明（设计）人： | 前田佳均;生田勋;永井正一;加藤义美;安藤寿;本信夫 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G02F1/03 | 分类号： | G02F1/03;G11B9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 乔晓东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过控制散布在介电基质(14)内之半导体微粒(13)的呈量子晶粒尺寸效应之晶态部分的直径获得(即使在室温下)高密度光信息记录，这种直径控制是利用微粒非晶态到晶态的相变来实现的。量子晶粒尺寸效应指介质的光学性质取决于晶态部分的直径。用这种记录介质可以实现各种记录、再生、和擦除信息的方法，本发明可用于其它光器件。 | ||
| 搜索关键词： | 改变 光学 性质 方法 器件 信息 记录 介质 装置 | ||
【主权项】：
1、一种改变物体光学性质的方法，其特征为：所述物体具有在基质(14)中分布的半导体微粒(13)，它包括对所述物体施加能量改变所述粒子晶态部分区域(32)的尺寸，且这部分区域的尺寸可呈量子晶粒尺寸效应。
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