[发明专利]高温Schlieren-微分干涉显微镜实时观察记录仪无效
| 申请号： | 92108502.8 | 申请日： | 1992-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN1082718A | 公开（公告）日： | 1994-02-23 |
| 发明（设计）人： | 金蔚青;陈锦元;严鸿萍 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;G02B21/32 |
| 代理公司： | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人： | 聂淑仪 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种高温Schlleren—微分干涉显微镜实时观察记录仪，属于晶体生长及其设备领域，有实时观察系统、测温、控温系统和监视与摄像系统。特点是在光路中设置楔形遮光板于焦平面上，并设置长焦距物镜及采用直径为0.3—0.5毫米的pt圈，最大限度克服液膜弯曲而产生的光象差，可观察到晶体生长时高温熔体流动和界面生长状态的清晰图象，温场分布可以调节；适用范围宽(常温—1500℃)。 | ||
| 搜索关键词： | 高温 schlieren 微分 干涉显微镜 实时 观察 记录仪 | ||
【主权项】：
1、一种高温Schlleren一微分干涉显微镜实时观察记录仪，包括三部分：实时观察系统、测温和控温系统E和T、监视器B和摄像机D组成的摄像系统，其特征在于：(1)实时观察系统由Schlleren一微分干涉显微镜C和高温加热台A组成；(2)在观察光路中设置楔形遮光板K于长焦距物镜的焦平面上；(3)在观察光路中设置长焦距物镜L2；(4)加热台A线圈结构可以改变。
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