[实用新型]发光二极管测试仪的一种装置无效
| 申请号： | 92231466.7 | 申请日： | 1992-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN2138303Y | 公开（公告）日： | 1993-07-14 |
| 发明（设计）人： | 鲍超 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 浙江大学专利代理事务所 | 代理人： | 陈祯祥 |
| 地址： | 3100*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 测试发光二极管的装置，是发光二极管光电参数测试仪的关键部件。它由光电探头、支架、测量台及测量基座组成。光电探头和测量台有电缆可连接发光二极管测试仪电气箱，分别输出光电信号和获得驱动发光二极管的电流。只要使光电探头在弹簧作用下升起，即可在测量台的插座内插进待测管，压下光电探头后，即可获得发光二极管辐射的，由光电探测器转换的光电信号，其稳定性重复性好，测试精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 测试仪 一种 装置 | ||
【主权项】：
1、发光二极管测试仪的一种装置，由光电探头、待测发光二极管插座、支架、及基座组成，其特征在于光电探头[1]设有安装光学系统和探测器的圆筒及与其一体的设有遮光光栏和消杂散光螺纹的遮光筒，光电探头[1]与装有待测发光二极管插座[4]的测量台[5]之间可定向相对移动，在测试发光二极管时，将插在插座[4]上的待测发光二极管罩入遮光筒内。
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