[发明专利]用于检测半导体存贮器件的刷新地址信号的电路无效
| 申请号： | 93105919.4 | 申请日： | 1993-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN1032337C | 公开（公告）日： | 1996-07-17 |
| 发明（设计）人： | 姜京雨 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C11/406 | 分类号： | G11C11/406;G11C11/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 肖掬昌,王忠忠 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种具有使用了多个内部刷新地址信号的自更新功能的半导体存贮器件的刷新地址检测电路，包括有多个地址检测通道，每个通道包含有一个具有刷新地址信号的初始逻辑电平的第一子通道和刷新地址信号的第二子通道；多个比较器，每个比较器接收来自第一子通道的刷新地址信号的初始逻辑电平和来自第二子通道的刷新地址信号的当前逻辑电平；一个用来从多个比较器接收所产生的输出信号的检测输出电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 半导体 存贮 器件 刷新 地址 信号 电路 | ||
【主权项】：
1.一种具有自刷新功能的半导体存贮器件，包括：一个具有多个存贮单元的存贮单元阵列；一个用来选择所述存贮单元中的一个存贮单元的选择装置；一个用来将数据存入所述存贮单元和从所述存贮单元复原数据的输入和输出装置；一个用来产生一刷新时钟的更新控制电路；一个用来响应于所述刷新时钟而产生多个刷新地址信号并将所述更新地址信号馈送到所述选择装置的刷新地址计数器；其特征在于，它还包括：一个用来检测所述刷新地址信号是否完全生成的刷新地址检测电路。
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