[发明专利]摆动式测量粉粒状物位的仪表无效
申请号: | 93111021.1 | 申请日: | 1993-04-03 |
公开(公告)号: | CN1028904C | 公开(公告)日: | 1995-06-14 |
发明(设计)人: | 杜国凯;万荣辉 | 申请(专利权)人: | 杜国凯;万荣辉 |
主分类号: | G01F23/22 | 分类号: | G01F23/22 |
代理公司: | 辽宁专利事务所 | 代理人: | 张志刚 |
地址: | 111000 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及一种测量仪表,特别是利用叶片回转摆动来控制粉粒状物位高度的一种测量仪表。轴的一端固定在轴芯上,轴芯穿过前后叉座与左、右叉臂固定为一体,滑轮安装在电机轴上的偏心轮上,滑轮置于左、右叉臂两臂之间的拨叉滑道中。使叶片轴无回转往复动作,仅作微量摆动使之易于密封,同时达到操纵灵活结构布置合理的目的。 | ||
搜索关键词: | 摆动 测量 粒状 仪表 | ||
【主权项】:
1、摆动式测量粉粒状物位的仪表,包括有叶片1、叶片座2、轴3、前后叉座12、14及左、右叉臂13、28及微动开关17、电机24,其特征在于轴芯11穿过前后叉座12、14与左、右叉臂13、28固定为一体,右叉臂28上装有开关架18,其上固装有微动开关17,左叉臂13上固定有压板15,机壳内的电机板25固定在轴套26及机座9上,电机24固定其上,滑轮22安装在电机24轴上的偏心轮23上,滑轮22置于左、右叉臂13、28两臂之间的拨叉滑道中。
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