[实用新型]衍射型光束列阵波前校正器无效

专利信息
申请号: 93226365.8 申请日: 1993-09-28
公开(公告)号: CN2177953Y 公开(公告)日: 1994-09-21
发明(设计)人: 郭晴;王汝笠;郭中原;傅艳红;陈高峰;王君 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G02B26/00
代理公司: 中国科学院上海专利事务所 代理人: 高毓秋
地址: 200083*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供了一种衍射型光束列阵波前校正器。它通过计算机设计单元透镜的位相结构,经多次光刻和离子束刻蚀制作多位相级菲涅尔透镜列阵器件,配以精密的安装调节机构,可作为激光二极管列阵输出的波前校正器。衍射特征和制作方法决定了本实用新型的集光效率高,波前校正精确,且结构紧凑,安装调校方便。
搜索关键词: 衍射 光束 列阵 校正
【主权项】:
1、一种衍射型光束列阵波前校正器,包括位相型菲涅尔透镜列阵器件和配置的安装调节机构,其特征在于:a.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的最细线宽为0.5微米;最大列阵为200×200元;b.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件为多阶位相结构,位相量化级次为二阶,或四阶,或八阶,或十六阶;c.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的单元为方形,或矩形、六角形;单元线度为0.05-1.5毫米;d.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的基片为石英,或硅,或碲镉汞等半导体材料制成。
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