[发明专利]集总的局部锯切工艺方法无效

专利信息
申请号: 94101212.3 申请日: 1994-01-22
公开(公告)号: CN1076516C 公开(公告)日: 2001-12-19
发明(设计)人: 迈克尔·A·米尼亚尔蒂;拉斐尔·C·阿尔法罗 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: H01L21/302 分类号: H01L21/302
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 孙敬国
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种在半导体晶片(48)上局部锯切出诸纵横沟槽(50)的工艺方法。锯切完后,诸沟槽(50)可用一防护物加以覆盖,然后继续对晶片象先前那样进行工艺处理。在晶片(48)被揿裂后,防护物(52)可以被去除,也可以不必去除。此外,晶片(50)可以用一上面带有许多劈刀(72)的楔形片(70)揿裂成单个芯片,其中单个劈刀(70)压向局部锯切出的诸沟槽(50),使晶片(48)断裂。
搜索关键词: 总的 局部 工艺 方法
【主权项】:
1.一种从半导体晶片制造半导体芯片的工艺方法,它包含:在晶片上局部锯切出诸沟槽;用一防护材料覆盖住所述局部锯切出的诸沟槽,从而所述局部锯切出的诸沟槽被完全覆盖住,但所述防护材料不会覆盖住整个所述晶片;进一步按照要求对具有局部锯切出的所述晶片进行工艺处理,以完成其上正制造的结构,包括牺牲层的去除和薄膜的处理过程;以及在所述处理步骤以后,在所述局部锯切出的诸沟槽处将所述晶片揿裂成单个芯片,其特征在于,覆盖所述诸沟槽的步骤包含用一种防护材料条带覆盖住所述诸沟槽。
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