[发明专利]集总的局部锯切工艺方法无效
申请号: | 94101212.3 | 申请日: | 1994-01-22 |
公开(公告)号: | CN1076516C | 公开(公告)日: | 2001-12-19 |
发明(设计)人: | 迈克尔·A·米尼亚尔蒂;拉斐尔·C·阿尔法罗 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/302 | 分类号: | H01L21/302 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 孙敬国 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种在半导体晶片(48)上局部锯切出诸纵横沟槽(50)的工艺方法。锯切完后,诸沟槽(50)可用一防护物加以覆盖,然后继续对晶片象先前那样进行工艺处理。在晶片(48)被揿裂后,防护物(52)可以被去除,也可以不必去除。此外,晶片(50)可以用一上面带有许多劈刀(72)的楔形片(70)揿裂成单个芯片,其中单个劈刀(70)压向局部锯切出的诸沟槽(50),使晶片(48)断裂。 | ||
搜索关键词: | 总的 局部 工艺 方法 | ||
【主权项】:
1.一种从半导体晶片制造半导体芯片的工艺方法,它包含:在晶片上局部锯切出诸沟槽;用一防护材料覆盖住所述局部锯切出的诸沟槽,从而所述局部锯切出的诸沟槽被完全覆盖住,但所述防护材料不会覆盖住整个所述晶片;进一步按照要求对具有局部锯切出的所述晶片进行工艺处理,以完成其上正制造的结构,包括牺牲层的去除和薄膜的处理过程;以及在所述处理步骤以后,在所述局部锯切出的诸沟槽处将所述晶片揿裂成单个芯片,其特征在于,覆盖所述诸沟槽的步骤包含用一种防护材料条带覆盖住所述诸沟槽。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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