[发明专利]射极耦合逻辑电路的老化方法和装置无效
| 申请号： | 94104266.9 | 申请日： | 1994-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN1057610C | 公开（公告）日： | 2000-10-18 |
| 发明（设计）人： | 黑田忠广;野田诚 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/60 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳,叶恺东 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 为能够缩短进行老化所需的时间而提出的ＥＣＬ电路老化方法和装置。其特点是，可用于将输入信号与作为电路阈值的基准电位进行比较而根据比较结果输出对应输出信号的ＥＣＬ电路，为进行在ＥＣＬ电路电路正常操作时与进行老化时的基准电位Ｖｒｅｆ的电平转换而设置了一切换装置。 | ||
| 搜索关键词： | 耦合 逻辑电路 老化 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种射极耦合逻辑电路的老化方法，所述方法被用于将输入信号与作为电路阈值的基准电位进行比较，根据比较结果输出对应的输出信号的射极耦合逻辑电路；在正常工作时将所述基准电位设置成所述输入信号的“高”电平与“低”电平的中间电平，其特征在于：在进行老化时则将所述基准电位设置得比所述输入信号的“高”电平要高或者比其“低”电平要低。
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