[发明专利]相位差测定装置和方法无效
| 申请号： | 94115984.1 | 申请日： | 1994-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1089900C | 公开（公告）日： | 2002-08-28 |
| 发明（设计）人： | 山口征治 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00;G01N29/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 叶恺东,王忠忠 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的相位差测定装置根据对被测定物发射的发射波和第一接收信号求出基准相位差(θ1)，根据发射波和第二接收信号求出表观上相位差(θ2′)。将表示表观上相位差(θ2′)通过某个基准点次数的转数n同角度360°的乘积值与表观上相位差(θ2′)相加以便求出真实的相位差(θ2)。转数n在表观上相位差θ2′边增加边通过基准点时变更为n＝n+1，在表观上相位差边减少边通过基准点时而变更为n＝n-1。 | ||
| 搜索关键词： | 相位差 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种相位差测定装置，其特征在于，它包括：向外在基准状态的被测定物发射和接收信号波而获得第一接收信号、并向测定状态的被测定物发射和接收信号波而获得第二接收信号的信号检测装置；求出所述信号波的发射波同所述第一接收信号间的相位差的基准相位差(θ1)和所述的发射波同所述的第二接收信号之间的表观上相位差(θ2′)的相位检测装置；在表示所述表观上相位差(θ2′)通过作为所述表观上相位差(θ2′)的变化范围内的1个角度值的基准点次数的转数n同角度360°的乘积上加上所述表观上的相位差(θ2′)、然后求出所述发射波同所述第二接收信号间的现实相位差的真实相位差(θ2)的相位差校正装置；连续地检测所述表观上相位差(θ2′)的增加或减小方向的倾向检测装置；当所述的倾向检测装置检测出表观上相位差(θ2′)边增加边通过所述的基准点时，将所述转数n变更为n＝n+1的变更装置；当所述的倾向检测装置检测出表观上相位差(θ2′)边减少边通过所述基准点时，将所述转数n变更为n＝n-1的变更装置；对应于所述真实相位差(θ2)同所述基准相位差(θ1)间的角度差(Δθ)而输出所述被测定物的状态测定信号的测定信息输出装置；所述的表观上相位差(θ2′)的变化范围是0°～360°，所述的基准点是0°。
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