[发明专利]发射γ和X射线同位素的改进定量测定法无效
| 申请号： | 94194455.7 | 申请日： | 1994-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN1137239A | 公开（公告）日： | 1996-12-04 |
| 发明（设计）人： | 安德泽·K·德鲁克伊尔 | 申请（专利权）人： | 比奥特雷斯公司 |
| 主分类号： | A61K51/04 | 分类号： | A61K51/04;C12Q1/68;G01N23/00;G01N33/534;G01N33/569;G01T1/00;G01T1/20;G01T1/161;G21H5/02;H01J47/00;H01L25/00;//A61K12300;10102;10330 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 范明娥 |
| 地址： | 美国弗*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 对于利用核捕获内层电子的同位素衰减，可以出现X射线和γ光子的符合发射。X射线由外层电子下降充填S层而发生，γ光子由受激的子核跃迁至较低能级而引起，本发明是一种符合γ和X射线探测器(CGXD)，它通过符合计数和其它的本底抑制测量的协同组合而取得异常的本底抑制。从而由单个γ计数器记录的本底约为20-40计数/分，而最适用电子捕获放射性同位素I125的CGXD具有大约1计数/天的本底。 | ||
| 搜索关键词： | 发射 射线 同位素 改进 定量 测定法 | ||
【主权项】：
1、具有非常低放射性，小于100微微居里的符合γ/X射线(CGX)发射体的使用，用于定量测量。
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