[发明专利]柔性基片上的电路迹线的测试装置和方法

摘要

一种测试沿一在一上板和一下板间沿纵向传送的柔性基片延伸的电路迹线的装置。上板包括许多上板隙和上板条。下板包括许多下板条和下板隙。在基片上、下分别移动上、下测试探针。当探针通过板隙与测试点接触时，沿基片两侧板隙延伸的板条提供了探针接触的支承表面。可用双探针法确定测试点间的电路迹线的电特性，或用单探针法确定电路迹线和板间的电容。逐步移动该基片在电路区域上按需要暴露出板隙中不同的点而完成测试。

主权项

1.一种测试沿一个柔性基片延伸的电路迹线的装置，其中上述装置包括：一个包括许多在横方向延伸的上板隙的上板，上板隙被上述上板上横方向延伸的上板条分隔开；一个包括分别在上述上板隙下面延伸的下板条和在上述下板条间横向延伸的下板隙的下板；以一种分隔开的相互关系固定上述上板和下板的板固定装置，以形成一个基片容纳狭孔的上表面和下表面、同时允许上述柔性基片沿一个纵向的传送方向通过上述基片容纳狭孔；可在横方向和纵方向上、在上述上板隙当中和在上述上板隙内移动的至少一个上探针，上述上探针还可向下移动以与在上述上板和下板间延伸的上述柔性基片相接触，以及可向上移动以使上述上探针在上述上板条上移动；以及可在上述横方向和纵方向上、在上述下板隙当中和在上述下板隙内移动的至少一个下探针，上述下探针还可向上移动以与在上述上板和下板间延伸的上述柔性基片相接触，以及可向下移动使上述下探针在上述下板条之下移动。