[发明专利]光学器件无效
申请号: | 95103295.X | 申请日: | 1995-03-08 |
公开(公告)号: | CN1073259C | 公开(公告)日: | 2001-10-17 |
发明(设计)人: | K·佐原;H·生井;M·土井;O·松田 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B11/105 | 分类号: | G11B11/105;G11B7/135 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,张志醒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种能结构简单且小型化的检测磁光信号的光学器件。该光学器件包括一个在共衬底上紧靠在安置光发射部分和光接收部分的光学元件(1),其中在光发射部分发射的光由磁光介质(36)反射后从磁光介质(36)得到的反射回的光由光接收部分和另一光接收元件(32)在近共焦点位置上检测。来自磁光介质(36)的反射回的光被分割。一束反射回的光由光学元件(1)的光接收部分检测,而另一束反射回的光由另一个光接收元件(32)检测。 | ||
搜索关键词: | 光学 器件 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测磁光信号的光学器件,包括:一个光学元件(1),具有公共衬底(6),光发射部分(4)和所述公共衬底上的光发射部分的共焦点处附近的光接收部分(5),当所述光发射部分发射的光被磁光介质(36)反射以后,所述光接收部分接收并检测从所述磁光介质得到的反射回的光;以及一个光束分离设备(47),将来自所述磁光介质的反射回的光分离到所述光学元件的光接收部分(5)和另一个光接收元件(72);其中一束反射回的光经过相同的光轴通路从光发射部分传到所述光学元件的所述光接收部分,并被所述光学元件的所述光接收部分接收和检测,而另一束反射回的光被所述另一个光接收元件(72)接收和检测;其特征在于:偏振装置(73),由左旋光板(76)和右旋光板(75)构成,所述发射光经过一个旋光板照射到所述磁光介质上,从所述磁光介质反射回的光经过另一个旋光板,被分成两部分的反射回的光被所述光学元件(1)的所述光接收部分(5)和所述另一个光接收元件(72)接收,并且磁光信号被一个分开的结构(5,72)检测,该分开的结构由所述光学元件的所述光接收部分和所述另一个光接收元件以分开的方式构成。
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