[发明专利]微粒测定装置及其测定方法无效
| 申请号： | 95106018.X | 申请日： | 1995-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1095078C | 公开（公告）日： | 2002-11-27 |
| 发明（设计）人： | 荻野真一 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 范本国 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能简化滑板的替换容易且迅速地将贯通孔配置在测定位置，同时具有较高的测定精度的、采用阻抗变化检测法的微粒测定装置及其测定工艺。微粒测定装置1包括之间试样容器2滑板3和一对电极4a、4b，带有滑板装在容器之间，上面设有可使试样悬浮液通过的检测孔。通过驱动装置7的驱动，使检测孔8-11中的一个孔移到位于与连通孔2c、2d相对应的位置上时，测定并分析粒径的分布。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 测定 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种微粒测定装置，包括一个滑板和一对电极，该滑板配置在2个试样容器之间进行滑动，滑板上设有使上述2个容器之间连通的贯通孔，上述一对电极配置在这两个试样容器以内，且与在试样容器内输送的试样悬浮液接触，利用这一对电极测定试样悬浮液通过贯通孔时产生的阻抗，根据该阻抗测定试样悬浮液中的微粒，上述滑板上的贯通孔是由多个不同口径的贯通孔形成的供选择用的贯通孔群。
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