[发明专利]测量大形物体形变位移量的方法及测量系统无效

专利信息
申请号: 95108001.6 申请日: 1995-06-20
公开(公告)号: CN1054206C 公开(公告)日: 2000-07-05
发明(设计)人: 叶虎年;叶梅;王浩;张庆 申请(专利权)人: 华中理工大学
主分类号: G01V8/16 分类号: G01V8/16
代理公司: 华中理工大学专利事务所 代理人: 方放,朱仁玲
地址: 430074 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明利用红外光射向固定于被测点的模板和基准引张线,载有模板模式信息的返回光束经光缆传输到脱离现场的监测中心,经光电变换、模数转换和信号分析解出位移量,测量系统由激光器、输出光缆、光纤传感器、返回光缆、光电变换器和信号处理器构成,对被测点部位恶劣环境有很好适应能力和抗干扰能力,本发明可用于空间任一方位监测,适合大坝、地壳、工程建筑物等大型物体位移变化测量。
搜索关键词: 测量 物体 形变 位移 方法 系统
【主权项】:
1.一种测量大型物体形变位移量的方法,其特征为:(1)将模板固定于被测点支墩,模板上横过引张线,引张线的两端点为固定点,模板和引张线位于由相互隔开的准直镜和接收镜所构成的耦合镜对之间,模板和引张线相对位置构成模板模式,(2)激光器发出红外光束,经输出光缆到达观测廊道的被测点部位光纤传感器入口,通过耦合镜对的准直镜射向模板与引张线,(3)载有模板模式信息的返回光束经耦合镜对的接收镜耦合进返回光缆,进入监测中心,(4)返回光束在监测中心经光电变换成为电信号,再经模数转换成为数字信号,(5)所述数字信号对应的模板模式,经信号分析,解释出该模板模式所对应的被测点位置信息,(6)重复步骤(2)-(5),得到被测点不同位置,从而解出被测点的位移。
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