[发明专利]半导体器件及其形成方法无效

专利信息
申请号: 95109338.X 申请日: 1993-07-06
公开(公告)号: CN1043704C 公开(公告)日: 1999-06-16
发明(设计)人: 山崎舜平;张宏勇;竹村保彦 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/84;H01L21/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 萧掬昌,叶恺东
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 薄膜半导体器件,例如TFT及其制造方法。TFT形成在绝缘衬底上。在该衬底上先形成基本上为非晶半导体涂层。再在该涂层上形成对激光辐射透明的保护涂层。用激光辐射照射该叠层,以改善半导体涂层的结晶度。然后,除去保护涂层使半导体涂层的表面露出。形成栅绝缘膜的涂层,随后形成栅电极。还涉及在绝缘衬底上制造半导体器件,例如TFT。形成主要由氮化铝组成第1涂层后,再形成主要由氧化硅组成的第2涂层,其上可制作半导器件。
搜索关键词: 半导体器件 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:一衬底,有彼此对置的上表面和下表面;一第一阻挡层,在所述衬底的上表面上形成;一绝缘栅场效应晶体管,在所述第一阻挡层上方形成;其特征在于,所述第一阻挡层包含氮化铝,其中铝和氮之比为0.9-1.4范围。
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