[发明专利]光学测量线卷的卷表面的方法无效
| 申请号： | 95109919.1 | 申请日： | 1995-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN1061440C | 公开（公告）日： | 2001-01-31 |
| 发明（设计）人： | 杰拉尔德·伯杰;乔治·奥拉彼 | 申请（专利权）人： | 巴马格股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 孙征 |
| 地址： | 联邦德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学测量线卷的卷表面的方法。在这个方法中，在每一个预先给定的测量时间点上，光束射向线卷的探测点；获得探测点的坐标；一部分由探测点反射的发散光束被聚焦并射向面传感器，光束在入射点接触面传感器；用面传感器测量面传感器上入射点的实际位置；探测点坐标从属于为确定入射点的几何理论位置的入射点；获取入射点的实际位置和理论位置之间的坐标差；并得到探测点的高度位置。$#! | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 表面 方法 | ||
【主权项】：
1．一种光学测量线卷的卷表面的方法，其中，用光束探测卷表面并对反射的光信号进行处理，光束在预先确定探测带上对卷表面进行探测，其特征在于，在每一个预先给定的测量时间点上，光束射向线卷的探测点；获得探测点的坐标；一部分由探测点反射的发散光束被聚焦并射向面传感器，光束在入射点接触面传感器；用面传感器测量面传感器上入射点的实际位置；探测点坐标归入为确定入射点的几何理论位置的入射点；获取入射点的实际位置和理论位置之间的坐标差；由坐标差得到探测点的高度位置。
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