[发明专利]金属表面涂层质量的检测方法无效
申请号: | 95110206.0 | 申请日: | 1995-04-27 |
公开(公告)号: | CN1061141C | 公开(公告)日: | 2001-01-24 |
发明(设计)人: | 朱祖铭;郭延风;刘慷;尹万全;张桂林;曹家麟;殷宗荣;秦万信;孙杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N29/00 | 分类号: | G01N29/00 |
代理公司: | 中国科学院沈阳专利事务所 | 代理人: | 张晨 |
地址: | 110015 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 一种金属表面涂层质量的检测方法,其特征在于测定过程是向待测样品注入标准脉冲,声发射换能器接收信号,放大并进行快速富里叶分析得频谱,再与已知的典型频谱进行比较,以评定样品质量好坏,本发明通过适合生产现场检验,操作简便,重复性好,不破坏试样。$#! | ||
搜索关键词: | 金属表面 涂层 质量 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种金属表面涂层质量的检测方法,包括各种金属的金属镀层,非金属涂层及表面膜质量的测定,其特征在于:(1)确定典型样品频谱特征:对待检测涂层选出2~6种不同档次的典型试样,按下述同样条件及步骤进行检测;在试样表面相距一特定距离2mm~10000mm的两质点,分别放置标准脉冲信号源和声发射换能器,其中换能器的一端露出基体,换能器后接前置放大器和频谱分析仪;标准脉冲信号源向待测样品注入标准脉冲波,所述标准脉冲为国际上通用的0.3mm直径硬铅芯折断所产生的脉冲波,声发射换能器接收信号,放大并进行快速富里叶分析得频谱;将得到的典型波谱和频谱进行特征分析;(2)检测检测条件及步骤与上述相同,将得到的波谱与频谱与已得到的典型波谱及频谱进行比较,以确定所测试样涂层品质的好坏。
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