[发明专利]大台面电力半导体器件的玻璃钝化方法无效
申请号: | 95110389.X | 申请日: | 1995-03-17 |
公开(公告)号: | CN1047025C | 公开(公告)日: | 1999-12-01 |
发明(设计)人: | 庄惠照;薛成山;王显明 | 申请(专利权)人: | 山东师范大学 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316 |
代理公司: | 山东省高等院校专利事务所 | 代理人: | 刘国涛,李荣升 |
地址: | 250014 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及大台面电力半导体器件的玻璃钝化方法。在已有技术中,用硅橡胶钝化法生产的大台面晶闸管的漏电流大、耐压特性差。本发明采用双重屏蔽,采用三种不同配比的腐蚀液一次连续成型制得类台面,反复熔烧玻璃粉制备玻璃钝化膜。本发明可广泛的用于大台面器件的系列产品钝化,性能可靠、高温特性好,耐压在1400—2800V,便于大批量生产。 | ||
搜索关键词: | 台面 电力 半导体器件 玻璃 钝化 方法 | ||
【主权项】:
1、大台面电力半导体器件的玻璃钝化方法,取完成PN结的芯片(1),激光割圆后,其特征在于,台面的玻璃钝化过程按以下顺序进行:双面蒸铝形成辅助层(2),并涂覆高抗蚀光刻胶(3),进行双重屏蔽;双面光刻;采用三种不同配比的腐蚀液一次连续成型制得类台面(4),具体过程是;腐蚀液放在冰水内,在5℃条件下腐蚀,把芯片(1)置入HNO3、HF、CH3CooH按配比6∶1∶1配成的腐蚀液内腐蚀20分钟,取出芯片(1)直接放入HNO3、HF、CH3CooH按配比4∶1∶1配成的腐蚀液内腐蚀4分钟,取出芯片(1)放入HNO3、HF、CH3CooH、HClO4按配比7∶3∶2∶1配成的腐蚀液内腐蚀1分钟,制得类台面(4);清洗处理后,用ZnO、PbO系玻璃粉涂覆,按玻璃粉的DTA曲线熔凝玻璃粉,反复熔凝成三层玻璃钝化膜,具体过程是:用ZnO系玻璃粉加无离子水搅拌均匀成浆状,用博士刀刮浆法填充于类台面(4)内进行双面刮涂,投炉后根据玻璃的DTA曲线熔凝制备第一层玻璃钝化膜(5),自然降温,用同样的方法,第二遍用ZnO系玻璃粉形成第二层玻璃钝化膜(6),第三遍用PbO系玻璃粉形成第三层玻璃钝化膜(7)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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