[发明专利]X射线(或γ射线)无损检查系统

摘要

本发明是一种利用X射线(或γ射线)进行无损检查的系统，为克服已有X射线(或γ射线)无损检查系统不能对被检查的物件进行实时地影像分离的缺点，本发明包括X射线(或γ射线)产生装置、矩阵存贮装置、整形装置、第一和第二探测装置、第一和第二转换装置、对数处理装置、影像产生装置和影像处理装置。它主要用于对旅客行李检查、邮政检查、海关检查、工业无损检查和废品回收中，能够实时地对各种材料进行影像分离。

主权项

1.一种用X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体，产生具体材料的影像，对这些具体材料的影像进行分离的X射线(或γ射线)检查系统，其特征在于，包括：(1)X射线(或γ射线)产生装置，它用于产生N种不同能量分布的X射线(或γ射线)，每种能量分布表示为Ek，并且每种能量分布Ek的X射线(或γ射线)具有强度I0(Ek)，K的范围从1到N，N是大于1的整数；(2)矩阵存贮装置，它用于存贮N×N矩阵μ-1，μ-1是矩阵μ的逆矩阵，检查前，根据材料对不同能量的入射X射线(或γ射线)的线性衰减系数或者与线性衰减系数等价的特征量(equivalentcharacteristics)的接近程度，把由未探明的材料组成的整体分成N种可能的材料组，矩阵μ的每一个元素μjk被定义为(N种材料组中的)某一材料组j对能量分布Ek的X射线(或γ射线)的线性衰减系数；(3)透射强度探测装置，它用于探测N种能量分布Ek的X射线(或γ射线)穿过由未探明的材料组成的整体以后的透射强度I(Ek，x，y)，透射强度探测装置输出第二影像信息；(4)对数处理装置，它用于对第二影像信息进行对数处理；(5)影像产生装置，它利用经过对数处理的第二影像信息及μ-1阵，产生N种材料组的具体材料影像；(6)影像处理装置，它用于处理并输出具体材料影像。