[发明专利]半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 95119435.6 | 申请日: | 1995-12-21 |
公开(公告)号: | CN1039859C | 公开(公告)日: | 1998-09-16 |
发明(设计)人: | 大芦敏行;松房次郎;荣森贵尚;西村正 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;H01L29/772;H01L29/788 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在半导体基板(1b)中与其主表面不相连的位置处形成一个埋层绝缘层(2)。在半导体基板(1b)的主表面中形成一个LOCOS绝缘膜(3b),用于使有源区之间彼此绝缘。在有源区里形成薄膜晶体管。该薄膜晶体管具有栅极电极(8),该电极形成于有源区上边,中间夹有栅极绝缘层(7)。在半导体基板(1b)的主表面中栅极电极(8)的两侧形成一对源/漏层(5)。在半导体基板(1b)中在埋层绝缘层(2)的紧下边形成一个高浓度杂质层(15)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,它包括:一个有主表面的半导体基板;一个埋层绝缘层,它形成于上述半导体基板中与上述主表面不相连的部位处;一个LOCOS绝缘膜,它形成于上述半导体基板的上述主表面中,用于有源区域之间彼此绝缘;和一个形成于上述有源区里的薄膜晶体管,上述薄膜晶体管具有一个栅极电极,它形成于上述有源区上边且中间插入一层栅极绝缘层,薄膜晶体管还具有一对源/漏层,它们形成于上述半导体基板的上述主表面里上述栅极电极的两侧,上述半导体装置还具有一个高浓度杂质层(15),它形成于上述半导体基板中上述埋层绝缘层的紧下边,其特征在于上述高浓度杂质层仅形成在上述LOCOS绝缘膜和上述有源区之间的边界部分的下边。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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