[发明专利]具有稳定双折射的法拉第效应检测线圈无效

专利信息
申请号: 95191901.6 申请日: 1995-01-31
公开(公告)号: CN1142265A 公开(公告)日: 1997-02-05
发明(设计)人: 戴尔·R·卢茨;特雷弗·W·麦克杜格尔;威廉·L·泰勒;韦恩·F·瓦尔纳;罗伯特·A·万德马赫 申请(专利权)人: 美国3M公司
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032;G01R15/24
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 沈昭坤
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种光纤的法拉第效应检测线圈具有非常小的线性和圆双折射,能在较宽的温度范围内保持稳定。线圈由有效线性拍长为100米或更长的旋转光纤制成,并且在形成线圈后对之退火。线圈提高了对与载流电缆有关的磁场的鉴别能力,可把该线圈包括在干涉度量式或者偏振测量式光学电流传感器(OCT)中。
搜索关键词: 具有 稳定 双折射 法拉第 效应 检测 线圈
【主权项】:
1.一种利用法拉第效应检测磁场变化的部件,其特征在于,包括一纤芯截面大致径向对称的光纤,光纤被制成一具有线性双折射和圆双折射的线圈,所述线性双折射小于约15°/m,并且所述圆双折射小于约4°/m。
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