[发明专利]用于检测薄形物的X-射线计算机层析(CT)摄影系统无效

专利信息
申请号: 95196719.3 申请日: 1995-10-20
公开(公告)号: CN1113235C 公开(公告)日: 2003-07-02
发明(设计)人: J·W·埃伯哈德;M·L·肖 申请(专利权)人: 洛克希德马丁特殊部件有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王勇,陈景峻
地址: 美国佛罗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 通过用辐射扫描一个三维体积以确定表示该体积的体元的特征(S1),识别具有相近特征值的体元(S2),并确认相近体元构成的连续体元组(S3),来确定一种物体的存在。然后,如果该连续体元组一个特征值如质量(S7)和/或体积(S5)达到一个预定值,则认定该连续体元组含有该物体。
搜索关键词: 用于 检测 薄形物 射线 计算机 层析 ct 摄影 系统
【主权项】:
1.一种确定一种物体在用多个体元表示的一个三维体积中是否存在的方法,其特征在于:所说物体至少在一个维度上小于所说体元的线性尺寸,该方法包括以下步骤:(a)用辐射扫描所说三维体积,以确定表示所说三维体积的多个体元中每一个的特征值;(b)识别具有相近的所说特征值的体元,以采用一种连续计算方法确认一组具有所说相近值的连续体元,按照所说的连续计算方法,对于一个给定的体元,基本上同时对与所说给定体元在同一平面中的体元、和位于所说给定体元之上和之下平面中的体元比较;以及(c)如果所说连续组的一个特征达到一个预定值,将所说连续的体元组确认为可能包含所说物体,其中所说特征是至少质量和体积之一。
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