[发明专利]计算机层析X射线摄影机无效
| 申请号： | 96102815.7 | 申请日： | 1996-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN1097446C | 公开（公告）日： | 2003-01-01 |
| 发明（设计）人： | 埃里克·赫尔;曼弗雷德·富克斯 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 杨梧 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种电子束-计算机层析X射线摄影机，它有一个由电子束(2)扫描的环形屏极(1)，其中在联机操作时可以在环形屏极(1)不同的地方测量电子束(2)中的强度分布。环形屏极(1)具有多个绝缘的部分屏极(11、12、13)，用于测量在电子束(2)中的强度分布并因而电荷分布的测量设备(14)与它们相连，其中，在各个部分屏极之间分别有绝缘的空隙，通过测量设备(14)可以在扫过两个部分屏极(11、12、13)之间的分离点时测得电荷分布。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 层析 射线 摄影机 | ||
【主权项】：
1、一种计算机层析X射线摄影机，它有一个围绕着测量场地(8)的环形的X射线源，其中设有一个环形屏极(1)，由电子枪(3)产生的电子束(2)扫描环形屏极(1)，以产生一个转动的X射线束(5)，其特征在于，环形屏极(1)具有多个绝缘的部分屏极(11、12、13、15、16、17、18)，一个用于测量在电子束(2)中电荷分布的测量设备(14)与它们相连，其中，在各个部分屏极之间分别有绝缘的空隙，通过测量设备(14)可以在扫过两个部分屏极(11、12、13、15、16、17、18)之间的分离点时测得电荷分布。
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