[发明专利]分析梭织物经纬纱密度的方法无效

专利信息
申请号: 96104918.9 申请日: 1996-04-29
公开(公告)号: CN1164027A 公开(公告)日: 1997-11-05
发明(设计)人: 林弘祺;吴德桦;连荣盛 申请(专利权)人: 财团法人中国纺织工业研究中心
主分类号: G01N33/36 分类号: G01N33/36
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 徐娴
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种利用图象处理方法自动分析梭织物经纬纱密度的方法,该图象处理方法流程是经由图象拾取,图象平滑、图象锐化、求物点阈值、计算得出经纬纱密度,其能达到自动分析样布的经纬纱密度的目的;另外;该图象处理方法的过程中亦可求取样布的二值化物点阈值、纱间距及纱间距平均值;该图象处理方法,藉由系统参数的调整,可对各种不同样布作经纬纱密度的计算,本方法流程简单,计算精确、效率高。
搜索关键词: 分析 织物 经纬 密度 方法
【主权项】:
1、一种使用图象处理方法自动分析梭织物经纬纱密度的方法,其步骤包括取象、图象平滑、图象锐化,求物点阈值及计算经纬纱密度等流程,其特征在于,所述物点阈值的求取,利用暗色板框实验台为背景,首先是求取锐化后图象的灰度值统计表再由灰度值统计表上,求取最高峰处的灰度值A及灰度值最暗波峰的灰度值B,然后判别灰度值A是否小于暗色板框灰度值的上限;如果是,则由灰度值统计表上求取A,B之外另一最高峰的灰度值C,再取一实验参数D乘C可得物点阈值T=C×D;又如果A值大于暗色板框灰度值上限,则物点阈值T的选取,根据实验结果显示T=B+(A-B)×D;所述经纬密的求取过程,是经由下列步骤完成:步骤1:读取经(纬)向的物点数;步骤2:以基础演算法(一)求取纱的中心距及纱的根数b,其过程如下:A.首先设定波峰预估值p,为经(纬)向总象素的n倍,B.由经(纬)向物点数,求出经(纬)纱所在位置,由于真正经(纬)纱附近会连续出现几个点数大于预估值p的点,将这些连续点中找出一个物点数最多的点,并定义该点为经(纬)纱中心线所在位置,因此沿屏幕起点到终点寻找与比较,便可求出该画面经(纬)纱的数目b;步骤3:检验经纬纱数目b是否小于下限值,如果不是则进行步骤4;如果是则以基础演算法求取,即直接寻找波峰波谷所在,并跃过干扰区,所寻得波峰数,即为经(纬)纱的数目;步骤4:检验经(纬)纱数目b是否大于上限值,如果不是,则进行步骤5,如果是,则修正波峰预估值,p=p+F再回步骤2重新演算,直到经(纬)纱数目在合理上下限内为止;步骤5:以最佳化求取纱间距平均值。首先利用步骤2,3及4求得各经(纬)纱座标,再以前一根纱座标减后一根纱座标方式求得所有可能的纱间距,再以H个象素为一单位,统计纱间距最大可能差距区间,则该区间为分析布样的最可能纱间距值,将该区间纱间距平均,定义为样布的纱间距平均值M;步骤6:修正纱中心线座标,将基础演算法求得纱中心线座标为基准,往左边二分之一纱间距为起点,往右边二分之一纱间距为终点,在此区间内,找寻经纬向物点值最大者,定义该点的座标为新修正后的纱中心座标;步骤7:修正纱间距的平均值M1;步骤8:寻找前段漏判的纱,前段漏判纱的检测,是利用基础演算法,求得第一根经(纬)纱所在为终点,与图象处理范围起始点的区间内,每隔最大间距阈值LTD内,寻找经(纬)纱之所在,检测方法是在最大间距阈值区间内,判断是否有波峰波谷的存在,如果有,则以该区间内波峰所在处,定义为漏判经(纬)纱之所在;步骤9:寻找中段漏判的纱,以步骤8的方式寻找漏判纱之所在;步骤10:寻找后段漏判的纱,以步骤8的方式寻找漏判纱之所在;步骤11:修正漏判纱的中心座标;步骤12:将多余的误判纱删除,然后检测所有两相邻的经(纬)纱间距是否小于最小间距阈值STD,如果是,表示两相邻的经(纬)纱所求出的纱,代表同一根经(纬)纱,需将两经(纬)纱所拥有物点数较少者删除;步骤13:求出经(纬)向密度,将经由前面12个图象处理过程所得的经(纬)纱数目,除以图象处理的经(纬)向密度。
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