[发明专利]同轴光电测距仪无效

专利信息
申请号: 96108139.2 申请日: 1996-06-10
公开(公告)号: CN1082182C 公开(公告)日: 2002-04-03
发明(设计)人: 阿部满孝 申请(专利权)人: 株式会社索佳
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杜日新
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种同轴光电测距仪,在光发送侧,有位于物镜(1)后面的光学部件,使来自光发射部件(52)的光束被在物镜(1)的光轴(C)附近放置的第一反射面反射。在光接收侧的光学部件被装配成使来自反射对象(R)的接收光(Pb)被位于第一反射面后面的第二反射面反射至位于光轴(C)侧面的光接收部件(61)。利用中央有一个开口的光圈板(54),使得从光发射部件(52)发出的光通过光圈板(54),从而使发送光(Pa)光束横截面为非点对称形状。$
搜索关键词: 同轴 光电 测距仪
【主权项】:
1.一种同轴光电测距仪,包括:在光发送侧的光学器件,其中来自光发送部件(52)的光由第一反射面(5a)反射,该第一反射面(5a)位于物镜(1)和聚焦透镜(3)之间并且邻近所述物镜(1)的光轴(C),从而把发送光(Pa)射到位于所述物镜(1)前方的反射部件(R)上;在光接收侧的光学器件,其中由所述反射部件(R)反射的接收光(Pb)被第二反射面(6a)反射,该第二反射面(6a)放在所述第一反射面(5a)之后并且位于分光镜(7)和光接收部件(61)之间的光路上;其中所述第一反射面(5a)被这样放置,使所述光轴(C)位于所述发送光(Pa)的光通量中;并且其中所述在光发送侧的光学器件进一步包括变换器件,用于把所述发送光(Pa)的所述光通量的截面交换成非点对称形状。
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