[发明专利]同轴光电测距仪无效
申请号: | 96108139.2 | 申请日: | 1996-06-10 |
公开(公告)号: | CN1082182C | 公开(公告)日: | 2002-04-03 |
发明(设计)人: | 阿部满孝 | 申请(专利权)人: | 株式会社索佳 |
主分类号: | G01C3/00 | 分类号: | G01C3/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种同轴光电测距仪,在光发送侧,有位于物镜(1)后面的光学部件,使来自光发射部件(52)的光束被在物镜(1)的光轴(C)附近放置的第一反射面反射。在光接收侧的光学部件被装配成使来自反射对象(R)的接收光(Pb)被位于第一反射面后面的第二反射面反射至位于光轴(C)侧面的光接收部件(61)。利用中央有一个开口的光圈板(54),使得从光发射部件(52)发出的光通过光圈板(54),从而使发送光(Pa)光束横截面为非点对称形状。$ | ||
搜索关键词: | 同轴 光电 测距仪 | ||
【主权项】:
1.一种同轴光电测距仪,包括:在光发送侧的光学器件,其中来自光发送部件(52)的光由第一反射面(5a)反射,该第一反射面(5a)位于物镜(1)和聚焦透镜(3)之间并且邻近所述物镜(1)的光轴(C),从而把发送光(Pa)射到位于所述物镜(1)前方的反射部件(R)上;在光接收侧的光学器件,其中由所述反射部件(R)反射的接收光(Pb)被第二反射面(6a)反射,该第二反射面(6a)放在所述第一反射面(5a)之后并且位于分光镜(7)和光接收部件(61)之间的光路上;其中所述第一反射面(5a)被这样放置,使所述光轴(C)位于所述发送光(Pa)的光通量中;并且其中所述在光发送侧的光学器件进一步包括变换器件,用于把所述发送光(Pa)的所述光通量的截面交换成非点对称形状。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社索佳,未经株式会社索佳许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/96108139.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:磁存储器及磁存储器中使用的磁记录媒体
- 下一篇:α-苯偶姻肟的合成方法
- 同类专利
- 专利分类