[发明专利]反馈式加工条件校正装置

摘要

在通过反馈由加工后测定的测定仪器16获得的测定值X确定校正定尺寸装置14中的定尺寸点校正值U的反馈式加工条件校正装置中，将控制装置(20)与优先考虑校正速度、根据少数的测定值X确定校正值U的积分控制IC和优先考虑校正精度、根据多数的测定值X确定校正值U的模糊控制FC并用，在要求校正迅速性能期间将积分控制IC的校正值U传送给定尺寸装置14，在要求校正精度期间将模糊控制FC的校正值转送给定尺寸装置(14)。#!

主权项

1.一种反馈式加工条件校正装置，该装置装备有：(a)按顺序加工若干个工件的加工机床、(b)根据从外部供给的校正值校正上述加工机床的加工条件，跟踪该校正加工条件控制加工机床的加工机床控制装置，(c)按顺序测定已被上述加工机床加工的若干个工件的尺寸的测定仪器，该装置包含校正值确定单元，该校正值确定单元与在这些加工机床和测定仪器之间至少有一个等待测定仪器测定的工件的加工系统一起使用，在由上述测定仪器获得若干个测定值时根据所述的若干个测定值确定上述加工条件的校正值，将该确定的校正值提供给上述加工机床控制装置，其特征在于在该反馈式加工条件校正装置中包括：除了用于确定上述校正值中第一校正值的上述校正值确定单元中的第一校正值确定单元之外，还设置有：当通过上述测定仪器获得的测定值数目比该第一校正值确定单元确定一个校正值所需要的测定值的数目少时，根据该少数的测定值确定上述加工条件的第二校正值，并将该确定的第二校正值供给上述加工机床控制装置的第二校正值确定单元。