[发明专利]半导体存储设备无效

专利信息
申请号: 96111845.8 申请日: 1996-08-15
公开(公告)号: CN1071489C 公开(公告)日: 2001-09-19
发明(设计)人: 前野秀史 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杨晓光
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在上块(UB)中,存储单元的编程是反向进行的,由此,当上块(UB)被选出时,得到的是与期望数据相反的反向数据。在读出放大器(SA1)的输出端附加一个反相器电路(Ⅳ),它将反向数据反相,从而最终得到期望数据。所具有的这种结构,它使得通/断可控存储单元的数目减少,从而提供一种削减功率消耗的半导体存储设备。此外,具有这种结构的断开状态存储单元,能尽可能多地消除负载(充电)电容对字线和位线的加载作用,从而提供保证对存储单元高速存取的半导体存储设备。$#!
搜索关键词: 半导体 存储 设备
【主权项】:
1.一种半导体存储设备,它包括:多个列,每列包含一个具有多个存储单元的阵列;以及一个输出部分,它连接到所述的多个列,所述多个存储单元包含至少一个通/断可控存储单元和至少一个断开状态存储单元;通过有选择地安排所述至少一个通/断可控存储单元和所述至少一个断开状态存储单元,用期望数据对所述多个存储单元进行编程,所述期望数据包括当用所述期望数据他们本身进行编程时,所述半导体存储设备的功率增加的概率;其特征在于,所述半导体存储设备还包括至少一个数据反相装置,它连接到所述多个列中的若干列,用于把从所述输出部分输出的数据进行反相。
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