[发明专利]熔质内部高温跟踪测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 96117674.1 申请日: 1996-08-23
公开(公告)号: CN1063546C 公开(公告)日: 2001-03-21
发明(设计)人: 王贵朝;田建华;余泉有;吕秀生;何丽华;谭显祥;丁伯南;傅世勤;刘勇;冯婕 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01J5/08 分类号: G01J5/08
代理公司: 四川大学专利事务所 代理人: 陈智伦
地址: 610003 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 熔质内部高温跟踪测量方法及装置,其方法以待测光源的辐亮度与标准光源的辐亮度比较为基础,包括采光、调光、分光、光电转换、信号放大、判读、计算及温度值输出;其装置由感温探头、光缆、多波长高温计和配有专用软件的数据存储分析仪构成。感温探头主要由金属氧化物单晶,保护壳及高低温光导耦合器组成。可测高温1000—2000℃,测温误差小于0.5%,耐高温、抗腐蚀、抗热震、抗氧化,可重复使用,连续跟踪测温,寿命长,用途广泛。$#!
搜索关键词: 内部 高温 跟踪 测量方法 装置
【主权项】:
1.熔质内部高温跟踪测量方法,其特征是将待测物光辐射的辐亮度与标准光源的辐亮度进行比较,从而测出待测熔质内部温度,具体步骤是:1)采集溶质内部光辐射,通过光缆将其传输给多波长高温计;2)将采集到的高温熔质内部的光辐射调制为间断光并分解成不同波长的光;3)用光电转换方法将第2)步所得光信号转换成电信号;4)将第3)步所得电信号放大;5)利用电脑及数据采集控制处理软件和温度计算专用软件将电信号换算为温度数值并绘出熔质内部温度随时间变化的曲线。
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