[发明专利]光学测量设备/方法

摘要

本发明的光学测量设备和方法用于通过利用穿过持测物质的测量光和利用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成分的物理量，包括获取第一、第二光干涉信号的第一、第二干涉装置；将第一、第二光干涉信号转换为第一、第二电信号的第一、第二光电转换部分；扩展第一、第二电信号的相位的第一、第二相位扩展部分；用于测量经第一、第二相位扩展部分扩展后的相位的相差的相差测量部分；及根据相差测量部分测得的相差来确定物理量的物理量确定部分。

主权项

1、一种用于通过使用穿过待测物质的测量光和使用预定的参考光来测量含于待测物质中的特定成份的物理量的光学测量设备，该光学测量设备包括：一个第一干涉装置，用于通过干涉测量光而获得第一光干涉信号；一个第二干涉装置，用于通过干涉参考光而获得第二光干涉信号；一个第一光电转换部分，用于将第一光干涉信号转换为第一电信号；一个第二光电转换部分，用于将第二光干涉信号转换为第二电信号；一个第一相位扩展部分，用于第一电信号的相位；一个第二相位扩展部分，用于扩展第二电信号的相位；一个相差测量部分，用于测量经第一相位扩展部分扩展的相位和经第二相位扩展部分扩展的相位之间的相差；及一个物理量确定部分，用于根据由相差测量部分测得的相差来确定含于待测物质中的特定成份的物理量。