[发明专利]数控加工中测量程序的生成及根据该测量程序的加工管理无效
申请号: | 96180188.3 | 申请日: | 1996-11-07 |
公开(公告)号: | CN1098140C | 公开(公告)日: | 2003-01-08 |
发明(设计)人: | 山崎和雄;松宫贞行;森田尚纪;深谷安司 | 申请(专利权)人: | 三丰株式会社;株式会社森精机制作所;大隈株式会社;山崎和雄 |
主分类号: | B23Q15/00 | 分类号: | B23Q15/00;G05B19/4155;G05B19/18 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 韩宏 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种根据一测量程序进行NC加工管理的方法和装置,其中通过一NC程序确定在一任意加工阶段的加工形状,生成一几何元素或一几何模型,并根据该几何模型生成一测量程序。当在完成该NC程序的若干步骤中的至少一步骤时执行该测量程序,且测量结果被用作为加工管理的控制信息。 | ||
搜索关键词: | 数控 加工 测量 程序 生成 根据 管理 | ||
【主权项】:
1、一种在NC加工中使用的测量程序生成装置,在该NC加工中通过一NC程序执行加工控制,该NC程序包括作业要素加工、加工要素加工或工序加工中的至少一个加工;该装置包括:一工件形状信息抽取单元,用于分析该NC程序从而抽取各作业要素加工、加工要素加工、或一加工处理加工的任意步骤中的工件形状信息;一几何模型生成单元,用于根据该工件形状信息,生成任意步骤中的一几何模型;及一测量程序生成单元,用于根据该几何模型生成一测量程序。
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