[发明专利]用于测试片状材料处理装置中所存储数据完整性的方法无效
申请号: | 96190362.7 | 申请日: | 1996-03-19 |
公开(公告)号: | CN1121019C | 公开(公告)日: | 2003-09-10 |
发明(设计)人: | 博多·艾伯特;威廉·邦特谢克 | 申请(专利权)人: | 吉赛克与德弗连特股份有限公司 |
主分类号: | G07D7/00 | 分类号: | G07D7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄敏 |
地址: | 联邦德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种通过测试装置测试片状材料处理装置中所存储数据的完整性的方法。为了测试被存储数据的完整性,首先在处于完整状态的处理装置的某一工作状态下,将来自处理装置的一个组件的对应于被测试数据的完整数据存储在测试装置中。为了检验组件中被测试数据的完整性,在测试装置中为每一次测试产生一个密钥。采用这一密钥和一种密码算法来编制两个密码。其中一个密码由处理装置的一个组件根据需要被测试数据来编制,该组件中存储了需要测试的数据;另一密码由测试装置根据完整数据来编制。此后,对上述两个密码进行相互比较。如果密码相符,则被测试的数据与完整数据相符,从而判断出没有出现不希望的改变。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 片状 材料 处理 装置 存储 数据 完整性 方法 | ||
【主权项】:
1、一种通过测试装置测试片状材料处理装置中所存储的数据的完整性的方法,所述片状材料是纸币或有价证券,该处理装置具有多个用于处理片状材料的组件,其特征在于进行如下的步骤:在测试装置(PE)中存储完整的数据(DU),该完整数据(DU)对应于来自处于完整状态下的处理装置的一个组件(KP)的要被测试数据(DP);由其数据需要被测试的组件(KP)编制第一密码(KYP),该第一密码(KYP)是通过密码算法(KY)和密钥(S),根据来自该组件(KP)的要被测试数据(DP)计算出来的;由测试装置(PE)编制第二密码(KYU),该第二密码(KYU)是通过密码算法(KY)和密钥(S),根据完整数据(DU)计算出来的;对所述第一密码(KYP)和第二密码(KYU)进行比较(V);由所述测试装置(PE)来产生所述密钥(S);以及在对数据完整性的每一次测试中所述密钥(S)各不相同。
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