[发明专利]磁传感器、使用磁传感器进行磁缺陷检测的方法及装置无效
申请号: | 96191317.7 | 申请日: | 1996-10-31 |
公开(公告)号: | CN1146729C | 公开(公告)日: | 2004-04-21 |
发明(设计)人: | 村上美广;长栋章生;加藤宏晴;四辻淳一;前田孝三;岩永贤一 | 申请(专利权)人: | 日本钢管株式会社;村上美广 |
主分类号: | G01N27/83 | 分类号: | G01N27/83 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;张志醒 |
地址: | 日本东京*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供了一种不减少初动就能高精度进行磁缺陷检测的磁传感器及使用该磁传感器的磁缺陷测试方法及装置。用于检测待检磁化主体的缺陷部分产生的磁通的磁传感器(50)包括:具有配置在待检的钢板(13)邻近区域上的磁极(51a、51b、51c)的E形铁芯(51);绕制在E形铁芯的中间磁极(51b)上、用于检测磁通量的测试线圈(52)。游离于E形磁传感器周围的外部磁场从E形铁芯(51)的相对侧磁极(51a、51c)通过,但不穿过E形铁芯的中间磁极(51b)。相应地,外部磁场不在测试线圈(52)中感应电压,测试线圈只检测缺陷部分引起的磁通量。因此,改善了相对于外部磁场的方向性,抑制了外部磁场引起的噪声电压的产生,提高了缺陷检测时的S/N。 | ||
搜索关键词: | 传感器 使用 进行 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种磁缺陷检测装置,包括:一个磁化器,用于将待检移动主体磁化;一个E形磁传感器,包含一个E形铁芯,该E形铁芯由具有暴露在待检主体周围的三个构成磁极的突出部分的铁磁物质构成;还包含一个测量线圈,用于检测由磁化主体的缺陷部分产生的磁通,并绕在E形铁芯的中央突出部分上;一个屏蔽板,用于对所述磁传感器进行磁屏蔽,并由铁磁性物质构成,其特征在于,该检测装置具有:一个截止频率设定器,用于根据每个突出部分的中心之间的距离设置截止频率F、初动L,即所述主体与所述E形铁心之间的距离、和所述主体的移动速度V;以及一个高通滤波器,用于处理来自所述E形磁传感器的、具有由所述截止频率设定器确定的截止频率的输出信号。
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