[发明专利]测量铁磁导电基体上的非铁磁导电层厚度的方法和装置

摘要

一种用于在包括用铁磁导电材料制成的基体并具有非铁磁导电材料镀层的物体的情况下测量镀层的导电率乘以层厚度的积的方法。包括步骤：在和物体相邻的空间内放置磁场感应器，用至少包括一个确定的检测表面的检测器测量两个量，分别和参考电信号同相与正交，并和由感应器和物体在检测表面内相伴地产生的磁通的时间的导数部分成比例，取这两个测量的两个不同函数作为第一曲线图的两个输入量而确定一个实验点来相伴地使用所述两个函数，所述曲线图包括一组不交叉的曲线，每条曲线相应于层的导电率和层厚之积的不同值，并在图上确定哪条曲线通过和测量相应的点，然后由此导出层的导电率和层厚之积的值。

主权项

1.一种用于包括由铁磁导电材料制成的基体并具有非铁磁导电材料镀层的物体，测量镀层的导电率乘以镀层厚度的积的方法，包括下列步骤：在物体周围的空间内，放置至少一个产生变化磁场的感应器，用包括至少一个有界的检测表面的检测器测量两个量，所述两个量和由感应器和物体相伴地在检测表面内产生的磁通的时间导数部分成比例，并和一参考电信号同相与正交，通过取这两个测量的两个不同函数作为第一图的两个输入量而确定一个实验点来相伴地使用所述两个不同函数，所述第一图不能被简化为具有一个输入的等效图，它和层的导电率以及基体的导电率与导磁率无关，而和感应器/物体/检测器系统以及由感应器产生的可变磁场有关，所述的图包括非交叉的曲线网络，每条曲线相应于层的导电率乘以层的厚度的积的不同值，以及在图上确定这些曲线的哪一条通过相应于测量值的点，并由此推导层的导电率乘以层厚度的积的值。