[发明专利]共面X射线光电二极管装配器无效

专利信息
申请号: 96193669.X 申请日: 1996-05-03
公开(公告)号: CN1185233A 公开(公告)日: 1998-06-17
发明(设计)人: 亚历山大·T·博特卡;本·蒂韦尔;索林·马尔科维奇 申请(专利权)人: 模拟技术有限公司
主分类号: H01L31/075 分类号: H01L31/075;H01L31/115;H01L27/146;G01T1/24
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 所公开的是一种共面光电二极管(50)结构,它具有在X射线检测方面的特殊应用,其中被未掺杂材料(61)分开的交替P掺杂区(54)及N掺杂区(56)沿光电二极管及其相关的X射线闪光晶体(74)之间的表面定位并延伸到该表面以下相对浅的深度。
搜索关键词: 射线 光电二极管 装配
【主权项】:
1、用于X射线检测的共面光电二极管,包括半导体装置,该半导体装置具有一个吸收面及与该所述面相邻接的:(a)第一掺杂区,它具有第一极性并延伸到所述半导体装置中一个第一深度;(b)第二掺杂区,它具有与第一掺杂区极性相反的极性,并延伸到所述半导体装置中一个第二深度,该第二深度实质上等于或大于所述第一深度;(c)一个实际上未掺杂区,它隔离所述第一及第二区并位于它们下部;及(d)第一电接触装置,它沿所述吸收面连接到所述第一区。
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