[发明专利]电可写可擦的只读存储单元装置及其制作方法无效
申请号: | 96194694.6 | 申请日: | 1996-07-02 |
公开(公告)号: | CN1187906A | 公开(公告)日: | 1998-07-15 |
发明(设计)人: | W·克劳特施奈德 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,萧掬昌 |
地址: | 联邦德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 电可写可擦的存储单元装置包括许多存储单元,每一存储单元具有一个浮栅(6″)的MOS晶体管,MOS晶体管安置在平行走向的行中。这时相邻的行分别交替地安排在纵向沟槽(4)的底面上和在相邻的纵向沟槽(4)之间。通过自对准工序,各个存储单元的占地面积达到2F2(F∶最小的结构尺寸)。 | ||
搜索关键词: | 电可写可擦 只读 存储 单元 装置 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.电可写可擦的只读存储单元装置,其中,—在半导体衬底(1)的由第一导电类型掺杂区域(2)内配置了很多单个的存储单元,—由第一导电类型掺杂的区域(2)是对半导体衬底(1)隔离的,—存储单元分别安置在基本上平行走向的行中,—在半导体衬底(1)的主面(3)内配置了基本上平行于行走向的纵向沟槽(4),—行分别交替地处在相邻的纵向沟槽(4)之间的主面(3)上和纵向沟槽(4)的底面上,—存储单元分别包括至少一个具有与第一导电类型相反的第二导电类型掺杂的源/漏区(12)、第一电介质(5)、一个浮栅(6″)、第二电介质(10)和一个控制栅(11′)的MOS晶体管,—字线(11′)垂直于行的走向,这些字线(11′)分别与沿不同的行安置的MOS晶体管的控制栅相接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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